Официальный поставщик MELLES GRIOT в России и странах СНГ

Флуоресцентные микроскопные объективы серии XPLAN CCG с числовой апертурой 1.1, 0.88, 0.75 и 0.5, фокусным расстоянием 9.09, 10.03, 12.12 и 20.78 мм и полем зрения до 2.51 мм. Коррекция под покровное стекло толщиной от 0.17 до 1.1 мм выставляется однократной заводской настройкой, без корректирующего кольца, хроматическая коррекция в диапазоне 436–790 нм. Подбор по апертуре, полю зрения, рабочему расстоянию и толщине покровного стекла. Секвенирование нового поколения, протеомика, пространственная биология.

Тубусные линзы XPLAN с фокусным расстоянием 145, 200, 291 и 400 мм под сенсоры формата 1–1.1 дюйма, 4/3 дюйма, APS-C и полнокадровые, поле зрения до 48.4 мм, пропускание более 93% на 633 нм, коррекция в диапазоне 438–790 нм. В паре с объективами XPLAN CCG дают увеличение от 7X до 44X. Подбор по формату сенсора, нужному увеличению и расстоянию до объектива. Флуоресцентная микроскопия и приборы визуализации высокой производительности.

Многоволновые лазерные источники High-Power Laser Engines с волоконным выводом: одноволновые 85-R-638-5, 85-G-532-10, 85-G-525-20, 85-B-488-5, 85-B-465-15 и 85-B-455-20, двухволновые 85-RG-638-525-15 и 85-GB-532-465-10, трёхволновые 85-RGB-638-532-488-5 и 85-RGB-638-532-455-10. Длины волн 638, 532, 525, 488, 465 и 455 нм, мощность от 5 до более 20 Вт, многомодовое волокно 400 мкм с NA 0.20. Подбор по набору длин волн, мощности и типу охлаждения. Широкопольная флуоресцентная съёмка с 2D-сенсорами и TDI-линейками.

Оптика формирования пучка 85-SQ-FOV-01 с квадратным полем 4.9°×4.9°, 85-REC-FOV-01 с прямоугольным полем 4.7°×3.1° или 5.2°×3.5°, линейные 85-LIN-FOV-01 и двухлинейные 85-LIN-FOV-02, контроллеры 85-AC-01 и 85-DC-01, узлы охлаждения 85-TEC-01, 85-FAN-01 и 85-WAT-01. Широкопольные модули освещения с плоским профилем пучка без спеклов, со свободным или волоконным выводом. Подбор по формату сенсора и паре объектив — тубусная линза XPLAN. Цифровая патология, скрининг, мультиплексная ПЦР, оптическая метрология.

Модульная система Laser Autofocus System со стандартными длинами волн 450 и 785 нм, частотой обновления 60 Гц и разрешением не хуже 1/10 глубины резкости объектива, класс лазера собранного модуля 1, интерфейс дифференциальный SPI, управление Z-столиком сигналом шаг/направление, программный API. Источник встроенный или выносной, в том числе на модуле освещения, совместима с объективами XPLAN CCG. Подбор по объективу, отражающей способности образца и длине волны. Полупроводниковые пластины, полированные подложки, предметные стёкла.

Микроскопные объективы по техническому заданию с числовой апертурой от 0.5 до 1.1, воздушные, водно-иммерсионные и с твёрдой иммерсией, для диапазонов от 470 до 2000 нм, с собственными тубусными линзами, а также оптико-механические сборки и готовые системы визуализации от источника света до сенсора. Подбор по апертуре, полю зрения, спектральному диапазону, телецентричности и порогу лазерного повреждения. Полупроводниковая инспекция и метрология, секвенирование, медицинские и лабораторные приборы.